Microscopía electrónica de barrido

Permite observar la morfología y textura de materiales con gran detalle. Con SEM, analizamos la estructura superficial y composición elemental con resolución nanométrica.

Explora la estructura de tus materiales con precisión nanométrica

El Laboratorio Nacional de Nano y Biomateriales (LANNBIO) cuenta con infraestructura y equipamiento de vanguardia para la caracterización estructural de materiales a nivel nano y micrométrico. Entre las técnicas disponibles, se destaca el uso de Microscopía Electrónica de Barrido de Emisión de Campo (FESEM-7600, JEOL), que permite la observación detallada de la morfología y textura de superficies con alta resolución. Además, se dispone de herramientas complementarias para el análisis elemental y químico de los materiales, asegurando un estudio integral de sus propiedades.

¿Qué podemos analizar con SEM?

Con la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) es posible analizar la morfología y topografía de los materiales, permitiendo visualizar su estructura superficial a nivel microscópico. También se puede determinar la composición elemental mediante espectroscopía de energía dispersiva (EDS), facilitando el análisis químico cualitativo. Además, el SEM permite evaluar el tamaño y la forma de partículas en materiales nanométricos y micropartículas, identificar fracturas y fallas estructurales en superficies y estudiar la homogeneidad y adherencia de recubrimientos y películas delgadas.

Nanotecnología

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Industria de materiales

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Ciencias de la vida

Estudio de tejidos, biomateriales y estructuras biológicas con alta resolución. Se aplica en biomedicina, farmacología y biotecnología para analizar células, implantes y materiales de uso médico.

Ingeniería y manufactura

 Evaluación del desgaste, corrosión y calidad de materiales industriales. Es clave en el control de calidad de componentes, investigación de fallas y desarrollo de recubrimientos protectores para mejorar la durabilidad de materiales en sectores como automotriz, aeroespacial y construcción.

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