La Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X (XPS) es una técnica analítica que permite identificar la composición química de la superficie de los materiales y analizar los estados de oxidación de sus elementos.
El Laboratorio Nacional de Nano y Biomateriales (LANNBIO) cuenta con el sistema K-ALPHA (THERMO SCIENTIFIC), una herramienta avanzada para la caracterización química de superficies. La Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X (XPS) permite identificar los elementos presentes en la superficie de los materiales, analizar sus estados de oxidación y evaluar la evolución química en distintos entornos.
Esta técnica es esencial en diversas disciplinas, desde la ciencia de materiales hasta la electrónica y la energía, facilitando el desarrollo de nuevos materiales y el control de calidad en sectores como manufactura, construcción, aeroespacial y biomateriales.
La Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X (XPS) permite identificar y cuantificar los elementos presentes en la superficie de materiales sólidos, proporcionando información detallada sobre su composición química. Además, analiza los estados de oxidación y la formación de compuestos en diferentes condiciones ambientales. A través del mapeo químico, se visualiza la distribución de los elementos sobre la superficie, mientras que el análisis de profundidad, mediante erosión controlada con iones de argón, permite evaluar la variación de la composición química en distintas capas del material.
Permite analizar productos de corrosión, óxidos y recubrimientos protectores en metales y aleaciones. Es fundamental en la evaluación de barreras anticorrosivas y tratamientos superficiales para mejorar la resistencia de los materiales en entornos agresivos.
Identifica impurezas, contaminantes y defectos en materiales industriales, garantizando el cumplimiento de estándares en manufactura, recubrimientos, adhesivos y polímeros avanzados. Es clave en la validación de procesos y optimización de productos.
Evalúa interfaces en semiconductores, detecta oxidación en circuitos y analiza contaminantes en materiales electrónicos. Es una herramienta esencial en la fabricación de dispositivos electrónicos, microchips y pantallas de alta precisión.
Caracteriza materiales utilizados en baterías, celdas de combustible y catalizadores, permitiendo optimizar su desempeño y estabilidad química. Es crucial en la investigación de nuevos materiales para el almacenamiento y conversión de energía.
Observa materiales con un nivel de detalle extraordinario. Nuestra Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) permite analizar la morfología, textura y composición elemental de superficies con resolución nanométrica.
Explora la estructura cristalina de los materiales. Con Difracción de Rayos X (DRX) identificamos fases, analizamos cristalinidad y determinamos tamaños de partícula en sólidos con precisión.
Descifra la estructura molecular de compuestos orgánicos e inorgánicos. Con Resonancia Magnética Nuclear (RMN) obtenemos información detallada sobre la composición química y disposición atómica de las sustancias.
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